简 介
. 本手册的主要内容是是介绍失效物理学的基本概念，并举例说明其在美国国家航空航天局所有系统和材料中的应用。手册分三个部分阐明了失效物理学方法，并附有案例研究参考资料：实证法（基于历史数据或实验物理）、确定法（基于理论物理或失效机理物理建模）和聚合法（确定法和实证评估组合方法）。
. 本书原文发布于2023年4月，本书译文发布于2024年1月3日。
. 译文全文共计52千字。
目 录
第1章 导言
1.1 主要内容
1.2 背景
1.3 失效物理学基础
第2章 手册应用指南
第3章 实证方法
3.1 实证可靠性方法
3.2 统计建模分析（指数分布模型、威布尔分布模型、正态分布模型、对数正态分布模型、二项分布模型和贝叶斯推断法）
3.2.1 指数分布模型
3.2.2 威布尔分布模型
3.2.3 正态分布模型
3.2.4 对数正态分布模型
3.2.5 二项分布模型
3.2.6 更新失效率的贝叶斯统计推断法
3.3 Peck的温度-湿度关系预测
3.4 加速性能分析
3.4.1 阿伦尼乌斯模型
3.4.2 逆幂律模型
3.4.3 科芬-曼森模型
3.4.4 Zhurkov模型
3.4.5 Palmgren模型
3.4.6 艾琳模型
第4章 确定性方法
4.1 什么是确定性方法？
4.2 电气和电子元件中的电迁移
4.2.1 金属
4.2.2 迁移
4.2.3 波动-耗散定理
4.2.4 粘滞阻力和布朗运动
4.2.5 集成电路互连线和通孔中的电迁移
4.3 失效的热物理学原理
4.3.1 热失效机理
4.3.2 热诱导失效概率
4.3.3 热失效不确定性
4.4 流体（管流）
4.5 电磁学（波光学、射线光学、交流/直流）
4.6 结构分析建模
4.6.1 疲劳分析
4.6.2 损伤容限（断裂）分析
4.6.3 蠕变
4.7 声学
4.8 化学（电池和燃料电池、电沉积、化学反应）
4.9 半导体失效的辐射物理学
4.9.1 总电离剂量
4.9.2 总非电离剂量/位移损伤剂量
4.9.3 单粒子效应
4.9.4 辐射诱发的失效模式分析
4.9.5 瞬时辐射失效（单粒子效应）
4.9.6 辐射诱发失效的可能性总结
第5章 从单个失效物理学研究发现中得出综合结果
5.1 聚合方法
5.2 包容关系研究发现聚合
5.3 互补关系研究发现聚合
5.4 相互关联关系研究发现聚合
5.5 聚合辅助
第6章 失效物理学的发展
6.1 美国国家航空航天局的发展之路
6.2 技术支持
6.3 先进技术的引入
6.3.1 人工智能、机器学习
6.3.2 数据监测/分析
6.4 方法创新
6.4.1 剩余使用寿命
6.4.2 数字孪生的应用
附录A 定义
附录B 案例研究图表
附录C 参考文献
附录D 缩略语
部分内容预览
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